GL Spectis 8.0光譜儀

高精度光評估

GL Spectis 8.0光譜儀是一款*的集成光譜輻射儀，具有高靈敏度的背照式制冷Hamamatsu CCD成像傳感器和革命性的低光學雜散光*方法，使光譜測量達到了xxx的更高水平。

Spectis 8.0是市場上xxx使用革命性的OSR方法/降低光學雜散光* /的產品，可確保測試結果的高精度。與傳統的實驗室測量設備相比，GL SPECTIS 8.0與集成有背面減薄CCD圖像傳感器的高靈敏度光學系統相結合，具有許多其他優勢。

操作簡便

這款USB控制的光譜儀包括Peltier冷卻的CCD Back-Thinned Hamamatsu傳感器，該傳感器與我們的GL Spectrosoft PC接口通信，允許用戶觸發測量并分析PC上的數據。

精確校準

我們高度重視校準程序和系統設計，以提高系統的準確性。每個光譜輻射儀都經過單獨校準，并且在xxx光譜校準過程之前，執行三個預校準階段：（1）波長校準，（2）非線性校正和（3）光學雜散光抑制*

高靈敏度

這種*的光評估系統使用二氧化硅透射光柵，可提供高分辨率，更高的通量和系統靈敏度。此外，傳感器的冷卻允許設置更長的積分時間以支持低信號電平測量。科學和實驗室應用的xxx解決方案。

使用方法

測量所有類型的光源

LED，熒光燈或LCD顯示器等不同的光源需要不同的光學探頭。GL SPECTIS 8.0可以與其他設備結合使用，以測量所有類型的光源，顯示器以及LED燈。可以提供其他設備來滿足各種測量要求。為了實現其儀器的非凡性能，GL Optic與專業的供應商合作，提供了可滿足專業市場需求的解決方案。

專業的LED表征

Spectis 8.0光譜儀是用于實驗室水平光評估的理想解決方案，可與我們的任何積分球和測角儀系統一起使用，以根據CIE 127：2007和CIE 025 / E：2015進行預先測量。高精度和高分辨率使其成為任何LED光測量需求的理想選擇。

GL Spectis 8.0功能

xxx的光子技術

GL SPECTIS 8.0光譜輻射儀的光學系統使用光譜學中可用的xxx解決方案。鏡/光柵/鏡光譜儀平臺使用二氧化硅透射光柵和背面薄型CCD圖像傳感器。傳感器和電子設備具有熱穩定性，并且軟件會不斷監控基線水平。

透射光柵提供了xxx的透射性能和高擴散效率。這些特性允許設置非常短的積分時間，這對于高精度光源測量非常重要，并且可能是超快速生產過程控制應用中的關鍵因素。

背面薄型CCD Hamamatsu傳感器在寬光譜范圍內提供非常高的量子效率。這有助于在UV，VIS和NIR范圍內實現更準確和低噪聲的光測量。該平臺的高光學分辨率使其成為工業應用中窄帶光源測量和快速光測量的理想工具。

光度和輻射度校準

在交付之前，將xxx光譜校準集成到每個光譜儀中，從而能夠精確測量不同的xxx值（例如勒克斯，坎德拉或流明）以及輻射度值，具體取決于安裝的測量附件。

暗電流補償

GL Spectis 8.0光譜儀可以在不同條件下提供非常精確的測量。電子板上安裝的溫度傳感器監視溫度變化，并自動補償暗電流水平的任何變化，從而提供出色的測量穩定性。

GL Spectis 8.0規格

*校準后的xxx測量不確定度。預期的不確定性對應于95％的覆蓋概率，覆蓋因子k = 2

**低于5 lx的測量可能需要定制以獲得注明的規格。請與技術銷售人員討論。

注意：儀器，固件和軟件規格如有更改，恕不另行通知。GL OPTIC數據表中包含的所有信息以及任何形式的產品信息均經過精心準備，并且其中包含被認為是真實的信息。請注意，由于文本和/或其他錯誤或可用技術的更改，可能會出現差異。我們建議在使用產品之前聯系GL Optic，以獲取xxx的產品規格。